[发明专利]晶体热透镜焦距的测量装置及其测量方法在审

专利信息
申请号: 202110632694.0 申请日: 2021-06-07
公开(公告)号: CN113432837A 公开(公告)日: 2021-09-24
发明(设计)人: 钟朝阳;于真真;张鑫;王明建;侯霞;陈卫标 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 代理人: 张宁展
地址: 201800 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种测量晶体热透镜焦距的装置及方法,该测量装置主要包括准直光源、待测激光晶体、焦距已知的正透镜、剪切干涉仪。将具有热透镜效应的待测激光晶体和焦距已知的正透镜形成一个透镜组,移动正透镜的位置使透镜组成为望远镜系统,测量此时激光晶体到正透镜的距离,将其值减去正透镜的焦距即为所测晶体热透镜焦距。本发明装置结构简单,易于操作,可实现激光晶体不同方向的热透镜焦距测量,同时可对不同泵浦功率下激光晶体热透镜焦距实时在线测量。
搜索关键词: 晶体 透镜 焦距 测量 装置 及其 测量方法
【主权项】:
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