[发明专利]一种III族氮化物晶体管的制备方法及晶体管在审

专利信息
申请号: 202110637757.1 申请日: 2021-06-08
公开(公告)号: CN113437145A 公开(公告)日: 2021-09-24
发明(设计)人: 姜全忠 申请(专利权)人: 苏州奥谱毫通电子科技有限公司
主分类号: H01L29/778 分类号: H01L29/778;H01L29/06;H01L21/335
代理公司: 宁波诚源专利事务所有限公司 33102 代理人: 刘凤钦;林辉
地址: 215200 江苏省苏州市吴江区东太湖生态旅游度*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种III族氮化物晶体管的制备方法,包括如下步骤:1)提供生长衬底;2)在所述生长衬底上,形成包括III族氮化物的多层膜结构:所述多层膜结构包括生长在所述生长衬底上的牺牲层、生长在所述牺牲层上的器件层和生长在所述器件层上的载体层,所述器件层包括电子通道;3)除去所述生长衬底;4)蚀刻所述牺牲层,暴露器件层的表面;5)形成晶体管,在器件层远离载体层的暴露的表面形成源极、栅极和漏极。还公开了一种栅极的形成方法,以及一种III族氮化物晶体管。与现有技术相比,本发明的优点在于:晶体管的源极、栅极和漏极形成在器件层远离载体层的一侧,晶体管的散热设计取决于载体层,载体层可以使用高热导率的氮化物,增加器件的可靠性。
搜索关键词: 一种 iii 氮化物 晶体管 制备 方法
【主权项】:
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