[发明专利]光离子化测量装置和方法在审
| 申请号： | 202110640121.2 | 申请日： | 2021-06-08 |
| 公开（公告）号： | CN113189258A | 公开（公告）日： | 2021-07-30 |
| 发明（设计）人： | 谢雷;杨雁南;沈飞宙 | 申请（专利权）人： | 上海雷密传感技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N30/64 | 分类号： | G01N30/64 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 钟扬飞 |
| 地址： | 201800 上海市嘉定区*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请涉及一种光离子化测量装置和方法，本申请的光离子化测量装置包括：电离室、发光组件、测量室和检测组件；电离室被配置为能使发光组件所发射的光线射入电离腔体内，以使电离腔体内的待测气体发生离子化；测量室具有贯穿测量室的出口孔道，出口孔道和电离腔体相通，以使离子化后的待测气体流出；检测组件包括电性连接的收集电极和偏置电极，用于检测出口孔道内离子化后的待测气体。故本申请具有选择性，能够有针对性地对待测气体进行测量，提高了对待测气体测量的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 离子化 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
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