[发明专利]用于频谱分析仪的校准和PV方法及生产系统有效
申请号: | 202110644805.X | 申请日: | 2021-06-09 |
公开(公告)号: | CN113093081B | 公开(公告)日: | 2021-08-17 |
发明(设计)人: | 罗勇;周顺 | 申请(专利权)人: | 深圳市鼎阳科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R35/00 | 分类号: | G01R35/00;G01R23/16;G01R3/00 |
代理公司: | 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281 | 代理人: | 白雪瑾;郭燕 |
地址: | 518000 广东省深圳市宝安区新安街道兴东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 一种用于频谱分析仪的校准和PV方法及生产系统,上位机获取预先保存的功能定义文件和参数定义文件,根据功能定义文件判断生产系统当前的工作模式,若为校准模式,上位机控制生产系统进入校准流程,若为PV模式,上位机控制生产系统进入PV流程,若为自动识别模式,上位机根据校准数据配置文件、校准数据文件和日志文件判断所接入频谱分析仪的需求,控制生产系统进入校准流程或者PV流程。此外,上位机中保存的参数定义文件能够根据不同产品型号和不同功能需求对用于生产操作的配置参数进行调整,使得本发明能够通过修改配置文件,对生产线的各个生产系统进行灵活配置,可满足并行的、复杂的生产需求。 | ||
搜索关键词: | 用于 频谱 分析 校准 pv 方法 生产 系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
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