[发明专利]用于频谱分析仪的校准和PV方法及生产系统有效

专利信息
申请号: 202110644805.X 申请日: 2021-06-09
公开(公告)号: CN113093081B 公开(公告)日: 2021-08-17
发明(设计)人: 罗勇;周顺 申请(专利权)人: 深圳市鼎阳科技股份有限公司
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00;G01R23/16;G01R3/00
代理公司: 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281 代理人: 白雪瑾;郭燕
地址: 518000 广东省深圳市宝安区新安街道兴东*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种用于频谱分析仪的校准和PV方法及生产系统,上位机获取预先保存的功能定义文件和参数定义文件,根据功能定义文件判断生产系统当前的工作模式,若为校准模式,上位机控制生产系统进入校准流程,若为PV模式,上位机控制生产系统进入PV流程,若为自动识别模式,上位机根据校准数据配置文件、校准数据文件和日志文件判断所接入频谱分析仪的需求,控制生产系统进入校准流程或者PV流程。此外,上位机中保存的参数定义文件能够根据不同产品型号和不同功能需求对用于生产操作的配置参数进行调整,使得本发明能够通过修改配置文件,对生产线的各个生产系统进行灵活配置,可满足并行的、复杂的生产需求。
搜索关键词: 用于 频谱 分析 校准 pv 方法 生产 系统
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市鼎阳科技股份有限公司,未经深圳市鼎阳科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202110644805.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top