[发明专利]n型共掺杂金刚石半导体材料制备的多尺度耦合仿真方法有效

专利信息
申请号: 202110646664.5 申请日: 2021-06-10
公开(公告)号: CN113096749B 公开(公告)日: 2021-11-05
发明(设计)人: 李辉;刘胜;申胜男;邹迪玮;沈威 申请(专利权)人: 武汉大学深圳研究院
主分类号: G16C60/00 分类号: G16C60/00;G16C20/10;G16C20/30;G16C10/00;G16C20/90;G06F30/28;G06F30/23;G06F113/08;G06F119/08;G06F119/14
代理公司: 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 代理人: 李炜
地址: 518057 广东省深圳市南山高*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了n型共掺杂金刚石半导体材料制备的多尺度耦合仿真方法,步骤如下:S1:收集相关信息,建模;S2:初步筛选掺杂的元素和核素;S3:构建金刚石超晶胞结构模型,筛选掺杂元素;S4:建立金刚石表面气体沉积模型,测试元素组合和对应的载体分子,优化参数;S5:结合S4的反应及环境参量,对于合成腔室的结构调整和模拟测试,确定宏观反应条件;S6:通过模拟仿真寻求特定产品更加合适的介观环境,并将其应用于S5模拟仿真测试中;S7:反复S4、S5、S6,获取最优条件。本发明通过多尺度多物理场耦合仿真,建立微观——介观——宏观仿真MPCVD方法制备n型共掺金刚石半导体的仿真模型,减少试错成本,快速获取最佳制备条件。
搜索关键词: 掺杂 金刚石 半导体材料 制备 尺度 耦合 仿真 方法
【主权项】:
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