[发明专利]基于三次样条插值算法的球面近场相位测量方法及系统在审
| 申请号： | 202110649744.6 | 申请日： | 2021-06-10 |
| 公开（公告）号： | CN113567766A | 公开（公告）日： | 2021-10-29 |
| 发明（设计）人： | 王卫民;王佳鑫;吴永乐 | 申请（专利权）人： | 北京邮电大学 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10;G01R29/08 |
| 代理公司： | 北京金咨知识产权代理有限公司 11612 | 代理人： | 宋教花 |
| 地址： | 100876 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请具体涉及一种基于三次样条插值算法的球面近场相位测量方法及系统，该方法包括：获取测试天线辐射近场区的第一近场幅度数据和第二近场幅度数据；使用三次样条插值算法得到第一插值幅度数据和第二插值幅度数据；基于第一插值幅度数据计算第一球面的迭代场分布，并基于第一球面的迭代场分布计算第二球面的初始迭代场分布；基于初始迭代场分布，通过幅值替代后，再通过球模式展开得到第一球面的迭代场分布，第一球面的迭代场分布含有计算得到的待校验幅度数据；计算第一近场幅度数据和待校验幅度数据的误差值；若误差值小于预设值，输出还原的第一球面的电场相位分布，本文有效解决了球面近场测量中近场相位难以测量的技术问题。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 三次 样条插值 算法 球面 近场 相位 测量方法 系统 | ||
【主权项】：
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