[发明专利]芯片测试方法、装置、控制电路和芯片有效
| 申请号： | 202110650977.8 | 申请日： | 2021-06-11 |
| 公开（公告）号： | CN113113075B | 公开（公告）日： | 2021-08-27 |
| 发明（设计）人： | 吴文豪 | 申请（专利权）人： | 新华三半导体技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12;G11C15/04;G11C7/10 |
| 代理公司： | 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 | 代理人： | 项京;丁芸 |
| 地址： | 610016 四川省成都市*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本申请实施例提供了一种芯片测试方法、装置、控制电路和芯片，芯片包括CAM和控制电路，控制电路包括多个晶体管组，每个晶体管组包括一个第一晶体管和一个第二晶体管；每个第一晶体管的栅极与DSL连接，且每个第一晶体管的另两极分别与所属组内的第二晶体管的一极和DML连接，每两个第二晶体管的栅极分别与一个位存储单元连接，每个第二晶体管的另一极接地；CAM中的ML和控制电路中的DML处于VDD状态；通过DSL，向每个第一晶体管的栅极提供预设时长的VDD信号；基于DML的电平反转结果和CAM锁存的比较结果，确定晶体管组是否满足模拟ML放电的条件。应用本申请实施例提供的技术方案，能够提高锁存比较结果的准确性，满足芯片的工作频率和延迟要求。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 方法 装置 控制电路 | ||
【主权项】：
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