[发明专利]一种多通道Y波导器件的直流相位漂移参数测试系统在审
申请号: | 202110651932.2 | 申请日: | 2021-06-11 |
公开(公告)号: | CN113203555A | 公开(公告)日: | 2021-08-03 |
发明(设计)人: | 肖金根;肖浩;李建光;刘凡;王强龙;刘东伟;刘博阳;雷军 | 申请(专利权)人: | 北京世维通光智能科技有限公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02;G01J9/02 |
代理公司: | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人: | 王爱涛 |
地址: | 100085 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种多通道Y波导器件的直流相位漂移参数测试系统,涉及测量及光电检测技术领域,其中该系统的光电开关单元包括m个光电开关模组;每个光电开关模组均包括n路光电开关,且n路光电开关共用一个输入端;每个光电开关模组均包括n个输出端。在该系统中,光源与光纤耦合器的第一端连接,光纤耦合器的第二端与一个光电开关模组的输入端连接,剩余的光电开关模组的输入端与光纤延时环连接;所有光电开关模组的输出端用于连接多通道Y波导器件;光纤耦合器的第三端通过光电探测器与信号处理调制模块的输入端连接,信号处理调制模块输出端用于连接多通道Y波导器件。本发明能够达到多通道连续快速测量直流相位漂移参数的目的。 | ||
搜索关键词: | 一种 通道 波导 器件 直流 相位 漂移 参数 测试 系统 | ||
【主权项】:
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