[发明专利]一种适用于TFT-LCD单屏幕测试光电参数的测试方法在审
| 申请号： | 202110652743.7 | 申请日： | 2021-06-09 |
| 公开（公告）号： | CN113552737A | 公开（公告）日： | 2021-10-26 |
| 发明（设计）人： | 黄广明 | 申请（专利权）人： | 信利（惠州）智能显示有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G09G3/00 |
| 代理公司： | 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 | 代理人： | 唐超 |
| 地址： | 516029 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种适用于TFT‑LCD单屏幕测试光电参数的测试方法，TFT‑LCD单屏幕的测试点GATE、VCOM、VGG通过金属线或金属探针和电测夹具连接，TFT‑LCD单屏幕的SOURCE IC绑定位涂覆导电涂层后，导电涂层通过金属线或金属探针和电测夹具连接；电测夹具用于向GATE、VCOM、VGG和SOURCE IC输入不同波形的测试电压，本发明提供的测试方法能屏蔽VGG层所在的三极管对于TFT‑LCD单屏幕测试光电参数的影响。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 适用于 tft lcd 屏幕 测试 光电 参数 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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