[发明专利]电容校准方法和电子设备有效
申请号: | 202110655141.7 | 申请日: | 2021-06-11 |
公开(公告)号: | CN113437972B | 公开(公告)日: | 2023-03-24 |
发明(设计)人: | 王逸飞;邬蓉 | 申请(专利权)人: | 上海联影微电子科技有限公司 |
主分类号: | H03M1/10 | 分类号: | H03M1/10 |
代理公司: | 北京华进京联知识产权代理有限公司 11606 | 代理人: | 吴迪 |
地址: | 201899 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本申请涉及一种电容校准方法和电子设备。所述两级模数转换器包括第一级模数转换器和第二级模数转换器,所述第一级模数转换器包括电容阵列,所述电容阵列包括至少两级电容,其中,将所述电容阵列中除第一级电容之外的任意一个电容作为待量化的目标电容;所述方法包括:控制所述目标电容和所述目标电容前一级的每个电容进行极板连接转换,得到所述目标电容产生的失配电压;将所述目标电容产生的失配电压输入所述第二级模数转换器,得到所述目标电容的失配量化值;根据所述失配量化值和预先建立的校准关系对所述目标电容进行校准处理,得到所述目标电容的实际电容值。采用本方法能够避免电容失配问题影响两级模数转换器的输出性能。 | ||
搜索关键词: | 电容 校准 方法 电子设备 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海联影微电子科技有限公司,未经上海联影微电子科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202110655141.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种亮晶颗粒灰岩图像的识别方法
- 下一篇:用于配网的方法、装置和智能家居系统