[发明专利]基于单频微波相推的光时延测量方法及装置有效
| 申请号： | 202110658913.2 | 申请日： | 2021-06-15 |
| 公开（公告）号： | CN113395110B | 公开（公告）日： | 2022-04-22 |
| 发明（设计）人： | 李树鹏;潘时龙;王立晗;王祥传;刘熙;汤晓虎;陈旭峰 | 申请（专利权）人： | 南京航空航天大学 |
| 主分类号： | H04B10/079 | 分类号： | H04B10/079;H04B10/524;H04B10/54;H04B10/548 |
| 代理公司： | 北京德崇智捷知识产权代理有限公司 11467 | 代理人： | 杨楠 |
| 地址： | 210000 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于单频微波相推的光时延测量方法，用频率固定的单频微波信号对连续的单波长光信号进行强度调制，并使用电脉冲信号对所得到的强度调制光信号进行调制，在时域上形成分立的一组光脉冲；以所述光脉冲对待测光链路进行探测，并对所得到的携带了待测光链路时延信息的光脉冲串进行拍频处理；以所述电脉冲信号为参考触发，同时对拍频信号和所述单频微波信号进行模数转换，在数字域得到拍频信号和所述单频微波信号之间的缠绕相位差；基于电脉冲信号的时域信息进行相位解缠，进而依据相推法解算得到待测光链路精确的光时延。本发明还公开了一种基于单频微波相推的光时延测量装置。本发明可实现大范围、高精度、多点的光时延测量。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 微波 光时延 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
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