[发明专利]基于双层平板探测器锥束CT的散射校正方法及装置有效
| 申请号： | 202110661232.1 | 申请日： | 2021-06-15 |
| 公开（公告）号： | CN113237903B | 公开（公告）日： | 2022-06-10 |
| 发明（设计）人： | 高河伟;顾珊;张丽;邢宇翔;李亮;邓智 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01N23/046 | 分类号： | G01N23/046 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 孙立波 |
| 地址： | 10008*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种基于双层平板探测器锥束CT的散射校正方法及装置，该方法包括：采集第一平板探测器和第二平板探测器上扫描物体的扫描数据；建立第一平板探测器和第二平板探测器探测到的散射射线强度与每层散射光子等效能量之间的第一关系，建立第一平板探测器和第二平板探测器的投影数据与每层散射光子等效能量之间的第二关系；根据第一关系和第二关系求解第一平板探测器和第二平板探测器探测到的关于射线总强度的方程，得到第一平板探测器和第二平板探测器探测到的散射射线强度；去除扫描数据中的散射射线强度，以利用去除后的扫描数据对扫描物体进行重建。由此，去除扫描数据中的散射数据，从而保证双层平板探测器物质分解的有效性。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 双层 平板 探测器 ct 散射 校正 方法 装置 | ||
【主权项】：
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