[发明专利]一种用于深紫外飞秒激光的脉宽测量系统在审
| 申请号： | 202110664687.9 | 申请日： | 2021-06-16 |
| 公开（公告）号： | CN113607291A | 公开（公告）日： | 2021-11-05 |
| 发明（设计）人： | 游利兵;张艳琳;方晓东;王宏伟 | 申请（专利权）人： | 中国科学院合肥物质科学研究院 |
| 主分类号： | G01J11/00 | 分类号： | G01J11/00 |
| 代理公司： | 合肥和瑞知识产权代理事务所(普通合伙) 34118 | 代理人： | 王挺 |
| 地址： | 230031 安徽*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种用于深紫外飞秒激光的脉宽测量系统，包括：分束片BS，用于对经分束片BS分束后的第一束激光进行传输的第一传输单元，用于对经分束片BS分束后的第二束激光进行传输的第二传输单元，用于接收第一传输单元的输出激光和第二传输单元的输出激光的非线性介质，用于对非线性介质中的双光子荧光进行采集的图像传感器CCD。本发明的脉宽测量系统的结构简单，无需相位匹配，基于该脉宽测量系统，仅通过一个脉冲所产生的双光子荧光就可以获得单脉冲的脉宽信息，从而实现入射激光的脉宽测量，有利于低重频入射激光的脉宽测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 深紫 外飞秒 激光 测量 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院合肥物质科学研究院，未经中国科学院合肥物质科学研究院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110664687.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
