[发明专利]一种测试嵌入式设备的方法、装置以及存储介质在审
| 申请号： | 202110669281.X | 申请日： | 2021-06-16 |
| 公开（公告）号： | CN115480962A | 公开（公告）日： | 2022-12-16 |
| 发明（设计）人： | 李海粟;罗丁;徐良军 | 申请（专利权）人： | 北京小米移动软件有限公司;北京小米松果电子有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京法胜知识产权代理有限公司 11922 | 代理人： | 白雪静 |
| 地址： | 100085 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开适用于嵌入式设备测试领域，提供了一种测试嵌入式设备的方法、装置以及存储介质。其中，关于一种测试嵌入式设备的方法，应用于与嵌入式设备连接的终端，该方法包括：确定触发字符串对应的程序阶段；响应于嵌入式设备程序运行到所述程序阶段，输出对嵌入式设备的测试指令；响应于测试指令，对嵌入式设备程序的运行进行测试，以确定测试所述嵌入式设备的测试结果。采用本公开的方法可以精准可控的设置测试的程序阶段，从而提升了对所需测试设备的测试效率，安全性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 嵌入式 设备 方法 装置 以及 存储 介质 | ||
【主权项】：
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