[发明专利]基于半导体光电二极管的高集成度光谱探测系统有效
| 申请号： | 202110672402.6 | 申请日： | 2021-06-17 |
| 公开（公告）号： | CN113310576B | 公开（公告）日： | 2022-06-21 |
| 发明（设计）人： | 邓仕杰;唐鹏程;苑立波 | 申请（专利权）人： | 桂林电子科技大学 |
| 主分类号： | G01J3/28 | 分类号： | G01J3/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 541004 广西*** | 国省代码： | 广西;45 |
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| 摘要： | 本发明提供的是一种基于半导体光电二极管的高集成度光谱探测系统，由半导体光电二极管探测阵列、偏置电压电路、跨阻放大器(TIA)阵列、模拟数字(AD)转换电路阵列、光谱重构系统、信息显示系统和光谱响应函数系统组成，可实现结构简单的高性能小型化光谱仪，可广泛应用于光学检测、生物化学分析、工业自动监测、军事侦察、天文研究等领域。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 半导体 光电二极管 集成度 光谱 探测 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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