[发明专利]一种电子元器件缺陷检测设备及检测方法在审

专利信息
申请号: 202110676185.8 申请日: 2021-06-18
公开(公告)号: CN113267508A 公开(公告)日: 2021-08-17
发明(设计)人: 赵光宇;宋阳 申请(专利权)人: 苏州鹰蚁视觉科技有限公司
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88;G01N21/01
代理公司: 苏州智品专利代理事务所(普通合伙) 32345 代理人: 丰叶
地址: 215000 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明公开了一种电子元器件缺陷检测设备及检测方法,包括底板,所述底板上端面安装有矩形框,所述矩形框上端面左侧、前端面中间和后端面右侧分别安装有第一检测装置、第二检测装置和第三检测装置,所述矩形框内安装有输料组件,所述第二检测装置右侧安装有微处理器,通过流水线的方式对电子元器件进行检测,降低了人工成本,提高检测的效率,并减少出错率,利用AI技术不仅提高数据处理时效性能,也保证数据的安全性和私密性;基于少量样本数据生成大量真实数据的技术,解决一些场景中数据获取难,成本高的问题。
搜索关键词: 一种 电子元器件 缺陷 检测 设备 方法
【主权项】:
暂无信息
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