[发明专利]高频段介质材料特性测量方法有效
| 申请号： | 202110678205.5 | 申请日： | 2021-06-18 |
| 公开（公告）号： | CN113435023B | 公开（公告）日： | 2022-12-30 |
| 发明（设计）人： | 成立;吴福伟;李元吉;杨予昊;孙俊 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第十四研究所 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20 |
| 代理公司： | 南京知识律师事务所 32207 | 代理人： | 熊敏敏;高娇阳 |
| 地址： | 210039 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种高频段介质材料特性测量方法，属于微波天线材料特性测量技术领域。本发明在三维全波电磁仿真软件中建立透镜天线模型，对其进行初次仿真，得到一组远场辐射方向图测试参数，透镜天线模型的透镜使用待测的高频段介质材料制成；按透镜天线模型制作透镜天线，进行实际远场辐射方向图测试，获得实际远场辐射方向图测试参数；进行后仿真，在透镜天线模型中仅改变介电常数和损耗角正切，仿真得到N组透镜天线模型的远场辐射方向图测试参数；将后仿真结果与实际远场辐射方向图测试参数进行对比，得到最接近实测结果的一组仿真值相应的介电常数和损耗角正切值。本发明能够方便准确地获取待测高频段介质材料样品的介质材料特性，且成本低。 | ||
| 搜索关键词： | 频段 介质 材料 特性 测量方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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