[发明专利]闪存的制备方法在审

专利信息
申请号: 202110680103.7 申请日: 2021-06-18
公开(公告)号: CN113394222A 公开(公告)日: 2021-09-14
发明(设计)人: 沈思杰;周海洋 申请(专利权)人: 上海华虹宏力半导体制造有限公司
主分类号: H01L27/11517 分类号: H01L27/11517;H01L27/11521
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 周耀君
地址: 201203 上海市浦东*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种闪存的制备方法,包括:提供基底,所述基底包括存储区和逻辑区,在所述基底上依次形成栅极材料复合层及介质层;刻蚀所述介质层及所述栅极材料复合层以在所述存储区中形成第一开口;在所述第一开口的侧壁上依次形成保护层及侧墙;在所述第一开口中填充字线栅层;去除所述逻辑区的基底上的介质层及栅极材料复合层,并在所述逻辑区的基底上形成逻辑栅层;去除剩余的所述介质层,并在所述存储区和所述逻辑区上顺形地形成图形化的硬质掩膜层,以所述图形化的硬质掩膜层为掩膜刻蚀所述逻辑栅层以形成逻辑栅;以及,刻蚀去除所述图形化的硬质掩膜层;本发明提高了闪存的电性能。
搜索关键词: 闪存 制备 方法
【主权项】:
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