[发明专利]一种基于最小二乘靶向修正的电容层析图像重建方法在审

专利信息
申请号: 202110696094.0 申请日: 2021-06-23
公开(公告)号: CN113409416A 公开(公告)日: 2021-09-17
发明(设计)人: 吕和翔;王莉莉;杜彬;陈德运;贾伟楠 申请(专利权)人: 哈尔滨理工大学
主分类号: G06T11/00 分类号: G06T11/00;G06F17/16
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 150080 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 发明提出了一种基于最小二乘靶向修正的电容层析图像重建方法,包括:采用归一化的数据,带入最小二乘估计求出迭代初值;步骤二、用迭代初值带入公式求出系数矩阵的初始误差阵;步骤三、用初始误差阵求出修正的系数矩阵初值;步骤四、针对修正的系数矩阵求出其对应的法矩阵,并构建靶向矩阵初值;步骤五、采用L‑曲线法,根据靶向矩阵求出其对应的正则化参数;步骤六、加入随机噪声,模拟真实实验环境;步骤七、参数带入迭代公式进行迭代运算,根据条件得到迭代结束后的实验目标估值。本发明可以有效降低复杂噪声环境对电容层析图像重建结果精度的影响。
搜索关键词: 一种 基于 最小 靶向 修正 电容 层析 图像 重建 方法
【主权项】:
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