[发明专利]识别方法、识别装置、半导体处理设备及可读存储介质在审

专利信息
申请号: 202110697412.5 申请日: 2021-06-23
公开(公告)号: CN113421239A 公开(公告)日: 2021-09-21
发明(设计)人: 陈鲁;佟异;肖遥;张嵩 申请(专利权)人: 深圳中科飞测科技股份有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/60
代理公司: 深圳市沈合专利代理事务所(特殊普通合伙) 44373 代理人: 沈祖锋
地址: 518109 广东省深圳市龙华区大浪街*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本申请公开了一种识别方法。识别方法用于识别特征图案阵列的偏转角度,每个特征图案包括位置已知的特征点,识别方法包括:选取一个特征点作为第一基准点;搜索与第一基准点共线的一个或多个特征点作为拟合点;拟合第一基准点与拟合点,以得到沿第一方向延伸的第一基准线;基于第一基准线识别特征图案阵列的偏转角度。本申请还公开了一种识别装置、半导体处理设备及计算机可读存储介质。通过在已知位置的特征点中选取第一基准点,并拟合第一基准点与一个或多个拟合点,以得到第一基准线,第一基准线反映了特征图案阵列的偏转角度信息,依据第一基准线可以识别到特征图案阵列的偏转角度。
搜索关键词: 识别 方法 装置 半导体 处理 设备 可读 存储 介质
【主权项】:
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