[发明专利]基于关键程度划分的并发活动图测试场景生成方法及系统在审
| 申请号： | 202110699531.4 | 申请日： | 2021-06-23 |
| 公开（公告）号： | CN113448846A | 公开（公告）日： | 2021-09-28 |
| 发明（设计）人： | 杜小智;张金金;张博文;常宸瑞 | 申请（专利权）人： | 西安交通大学 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人： | 李红霖 |
| 地址： | 710049 *** | 国省代码： | 陕西;61 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了基于关键程度划分的并发活动图测试场景生成方法及系统，包括如下过程：对项目中含有并发结构的模块建模，得到含有并发结构的模块对应的并发活动图；将并发活动图转换为xml文件；对xml文件进行解析，得到量化后的有向图的邻接矩阵；根据邻接矩阵对活动图对应的节点进行关键程度划分，得到具有层次关系的节点集合；将节点集合输入KeyPermute算法，得到并发活动图测试场景。本发明的方法在满足覆盖率的情况下，避免了测试场景路径爆炸的问题，同时也解决了并发模块处理难的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 关键 程度 划分 并发 活动 测试 场景 生成 方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安交通大学，未经西安交通大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110699531.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：水多联系统的动态偏差控制方法及水多联系统
- 下一篇：低介电复合材料及天线组件
