[发明专利]一种芯片设计方法及装置在审
申请号: | 202110700147.1 | 申请日: | 2021-06-23 |
公开(公告)号: | CN113343627A | 公开(公告)日: | 2021-09-03 |
发明(设计)人: | 南海卿;张晓强;张冠群 | 申请(专利权)人: | 海光信息技术股份有限公司 |
主分类号: | G06F30/367 | 分类号: | G06F30/367;G06F30/392;G06F115/02;G06F119/04 |
代理公司: | 北京市广友专利事务所有限责任公司 11237 | 代理人: | 张仲波 |
地址: | 300000 天津市滨海新区天津华苑*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本发明实施例公开一种芯片设计方法及装置,涉及计算机技术领域,能够有效提升芯片老化后的性能。所述方法包括:获取芯片中待定单元的单元约束条件,所述单元约束条件包括所述待定单元的出厂性能约束、出厂能耗约束、老化性能约束、老化能耗约束;根据所述单元约束条件,在所述待定单元对应的标准单元库中选择目标单元作为所述待定单元,其中,所述目标单元的出厂性能参数、出厂能耗参数、老化性能参数、老化能耗参数都满足对应的所述单元约束条件,且所述目标单元为所述标准单元库所有满足所述单元约束条件的标准单元中,所述老化能耗参数最低的标准单元。本发明适用于芯片设计中。 | ||
搜索关键词: | 一种 芯片 设计 方法 装置 | ||
【主权项】:
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