[发明专利]纳米颗粒粒径浓度检测系统及其检测方法在审

专利信息
申请号: 202110709229.2 申请日: 2021-06-25
公开(公告)号: CN113433041A 公开(公告)日: 2021-09-24
发明(设计)人: 刘超;田飞;邓瑾琦;孙佳姝 申请(专利权)人: 国家纳米科学中心
主分类号: G01N15/00 分类号: G01N15/00;G01N15/10
代理公司: 北京市英智伟诚知识产权代理事务所(普通合伙) 11521 代理人: 刘丹妮
地址: 100190 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种所述纳米颗粒粒径浓度检测系统包括样本收集清洗系统、检测芯片和激光器,所述样本收集清洗系统与所述检测芯片连接,控制样本与清洗溶液在检测芯片中的流动。本发明的检测系统可以在溶液状态下通过观测纳米颗粒的运动轨迹和数量,从而推导出纳米颗粒的粒径和浓度,能够保证纳米颗粒处于原始状态,结果准确且可靠。系统可作为一个模块与纳米颗粒合成系统组合使用,减少分开实验带来的人为干扰。本发明的系统操作简便,具有高通量的特点。
搜索关键词: 纳米 颗粒 粒径 浓度 检测 系统 及其 方法
【主权项】:
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