[发明专利]一种基于BIST结构和自振荡环的电路老化测试方法在审
| 申请号： | 202110709822.7 | 申请日： | 2021-06-25 |
| 公开（公告）号： | CN113391193A | 公开（公告）日： | 2021-09-14 |
| 发明（设计）人： | 梁华国;马俊祥;肖远;李丹青;蒋翠云;易茂祥;鲁迎春;黄正峰 | 申请（专利权）人： | 合肥工业大学 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 安徽省合肥新安专利代理有限责任公司 34101 | 代理人： | 陆丽莉;何梅生 |
| 地址： | 230009 安*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于BIST结构和自振荡环的电路老化测试方法，包括：1、根据静态时序分析、强相关性和扇出过滤方法选择出代表性的关键路径集；2、针对每条代表性关键路径上的“逻辑门”进行分析，将第一个门替换为同类型的且增加一个输入引脚的门，在所增加的引脚上连接旁路多选器将代表性关键路径连接成环路，并确定每个“逻辑门”的非控制引脚值，以配置为自振荡环；3、利用固定型故障测试向量生成方法生成老化测试向量，敏化关键路径；4、敏化关键路径后，禁止系统时钟，使用片外定时器设定振荡时间，同时控制自振荡环开始振荡；5、基于BIST结构设计异步计数器，并计算电路延时，评估电路老化程度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 bist 结构 振荡 电路 老化 测试 方法 | ||
【主权项】：
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