[发明专利]一种芯片原型验证方法、装置、计算机设备和存储介质在审
| 申请号： | 202110710065.5 | 申请日： | 2021-06-25 |
| 公开（公告）号： | CN113392620A | 公开（公告）日： | 2021-09-14 |
| 发明（设计）人： | 刘才齐;李源;徐宁仪 | 申请（专利权）人： | 上海阵量智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/398 | 分类号： | G06F30/398;G06F9/445 |
| 代理公司： | 北京中知恒瑞知识产权代理事务所(普通合伙) 11889 | 代理人： | 吴迪 |
| 地址： | 200235 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本公开提供了一种芯片原型验证方法、装置、计算机设备和存储介质，其中，该方法包括：获取目标验证平台的目标配置文件和验证用例的预期执行结果；目标配置文件包括验证用例的配置信息；目标验证平台包括多个验证组件；基于目标配置文件和多个验证组件，在待验证芯片组件上执行验证用例，得到实际执行结果，以基于实际执行结果与预期执行结果的对比结果确定验证用例的验证结果；其中，至少部分验证组件包括利用预设编程语言所编写的功能代码；功能代码能够运行在不同验证平台上。本公开实施例由于用预设编程语言所编写的功能代码能够运行在不同验证平台上，因此，能够通过维护一套通用的多个验证组件的功能代码，实现在不同验证平台的高可移植性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 原型 验证 方法 装置 计算机 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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