[发明专利]涂胶缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备有效
申请号: | 202110712626.5 | 申请日: | 2021-06-25 |
公开(公告)号: | CN113344901B | 公开(公告)日: | 2023-08-01 |
发明(设计)人: | 王谦;崔磊;吴立威;王巍;肖旭 | 申请(专利权)人: | 北京市商汤科技开发有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/70;G06V10/80;G06V10/82;G06N3/0464;G06N3/084 |
代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 熊永强;董文俊 |
地址: | 100080 北京市海淀区北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本公开涉及涂胶缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备。该方法包括获取目标图像,上述目标图像包括工件的涂胶区域;基于深度神经网络对上述目标图像进行处理,得到上述涂胶区域的预测位置信息;获取上述涂胶区域的标准位置信息;根据上述预测位置信息和标准位置信息,得到涂胶缺陷检测结果。本公开可以基于深度神经网络对目标图像进行自动分割,确定预测位置信息,进而根据该预测位置信息自动快速判断出涂胶缺陷,实现了涂胶缺陷检测的智能化、自动化,并且保证涂胶缺陷检测的准确度。 | ||
搜索关键词: | 涂胶 缺陷 检测 方法 装置 存储 介质 电子设备 | ||
【主权项】:
暂无信息
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