[发明专利]一种红外焦平面探测器有效
申请号: | 202110713217.7 | 申请日: | 2021-06-25 |
公开(公告)号: | CN113447148B | 公开(公告)日: | 2022-12-02 |
发明(设计)人: | 翟光杰;潘辉;武佩;翟光强 | 申请(专利权)人: | 北京北方高业科技有限公司 |
主分类号: | G01J5/24 | 分类号: | G01J5/24 |
代理公司: | 北京开阳星知识产权代理有限公司 11710 | 代理人: | 安伟 |
地址: | 100070 北京市丰台*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本公开涉及一种红外焦平面探测器,红外焦平面探测器中CMOS测量电路系统和CMOS红外传感结构均使用CMOS工艺制备,红外焦平面探测器中,第一柱状结构位于反射层与梁结构之间,第二柱状结构位于吸收板与梁结构之间,第一柱状结构和第二柱状结构均为实心柱状结构,红外焦平面探测器还包括超材料结构和/或偏振结构。通过本公开的技术方案,解决了传统MEMS工艺红外焦平面探测器的性能低,像素规模低,良率低以及一致性差的问题,有利于提高红外焦平面探测器的结构稳定性,增加吸收板的面积,提升红外焦平面探测器的红外探测灵敏度,且有利于提高红外焦平面探测器对入射红外电磁波的吸收率,优化红外焦平面探测器的性能,降低红外焦平面探测器光学设计的难度。 | ||
搜索关键词: | 一种 红外 平面 探测器 | ||
【主权项】:
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