[发明专利]一种深低温环境下模拟月壤反射光谱测量装置及方法在审
| 申请号： | 202110713642.6 | 申请日： | 2021-06-25 |
| 公开（公告）号： | CN113405996A | 公开（公告）日： | 2021-09-17 |
| 发明（设计）人： | 王晶;陶东兴;刘守文;吴东亮;徐彦彤;尚永红;李西园;杨军;于晨 | 申请（专利权）人： | 北京卫星环境工程研究所 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01;G01N21/27 |
| 代理公司： | 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 11435 | 代理人： | 成丹 |
| 地址： | 100094 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请提供一种深低温环境下模拟月壤反射光谱测量装置及方法，其中装置包括深低温真空容器；深低温真空容器的内部设有光谱测量设备和照明光源，外部设有接收组件；光谱测量设备位于保温保压的舱体内；舱体上对应光谱测量设备设有观察窗；照明光源安装在舱体的外部，位于观察窗处。根据本申请实施例提供的技术方案，通过将光谱测量设备安装在有热防护的保温保压舱体内，可为光谱测量设备提供常温常压工作环境，且有效屏蔽保温保压舱产生的热流对被测深低温模拟月壤的影响，确保测量的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 低温 环境 模拟 反射 光谱 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京卫星环境工程研究所，未经北京卫星环境工程研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110713642.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种智能化楼宇用消防装置
- 下一篇：一种项目文件的处理方法和装置
