[发明专利]光电子能谱仪XPS加热测试专用样品槽有效
| 申请号： | 202110717569.X | 申请日： | 2021-06-28 |
| 公开（公告）号： | CN113504253B | 公开（公告）日： | 2023-06-16 |
| 发明（设计）人： | 徐静;马倩茹;贺英;侯雪玲 | 申请（专利权）人： | 上海大学 |
| 主分类号： | G01N23/2204 | 分类号： | G01N23/2204;G01N23/2273 |
| 代理公司： | 北京博尔赫知识产权代理事务所(普通合伙) 16045 | 代理人： | 于武江 |
| 地址： | 200444*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种光电子能谱仪XPS加热测试专用样品槽设计和应用，首先需要制作一定尺寸可放置粉末颗粒、纤维、液体等样品的耐高温圆形小容器，其次制作一定尺寸固定圆形小容器的长方形超薄金属底座，可有效避免传输进样时样品倾洒污染仪器分析室。两者合成材料必须为耐高温Zr合金金属材料，耐高温温度范围可根据实际需求做相应调整。这种专用样品槽设计方便，成本较低，可广泛应用于金属材料、生物材料、薄膜材料、催化剂材料、纳米材料、木材、半导体、微电子等各种有机无机材料，本发明在各领域有着广阔的应用前景。 | ||
| 搜索关键词： | 光电子 能谱仪 xps 加热 测试 专用 样品 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海大学，未经上海大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110717569.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
