[发明专利]一种用于绝缘纸光谱的水分影响因素校正方法及系统

摘要

本发明涉及一种的用于绝缘纸光谱的水分影响因素校正方法及系统，获取校正前的绝缘纸光谱数据Xw，然后利用差值法进行处理，得到干燥绝缘纸样品与不同含水状态的绝缘纸样品的差异矩阵D，进而对其进行主成分分解获得矩阵G，进而得到水分影响矩阵Q；通过水分影响矩阵Q的处理得到转换矩阵P；最后利用校正方法得到校正后的绝缘纸光谱数据Xpre。本发明考虑到不同样品间含水状态差异对预测精度的影响，对样品光谱中受水分影响的部分进行校正，将原始光谱数据映射至与水分影响光谱正交的空间，从而去除由水分因素波动而造成的光谱变化，有效提升了绝缘纸聚合度的预测精度。