[发明专利]集成电路装置设计仿真方法、装置、设备和可读存储介质在审
| 申请号： | 202110723085.6 | 申请日： | 2021-06-25 |
| 公开（公告）号： | CN113420520A | 公开（公告）日： | 2021-09-21 |
| 发明（设计）人： | 王斌;潘于;陈俊 | 申请（专利权）人： | 海光信息技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/367 | 分类号： | G06F30/367;G06F30/396 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 彭久云 |
| 地址： | 300392 天津市华苑产业区*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本公开提供了一种集成电路装置设计仿真方法、装置、设备和可读存储介质。用于集成电路装置的设计仿真方法包括：获取基于集成电路装置的多个模块构建的运行队列，其中，运行队列包括选自多个模块的至少一个模块，并且在运行队列中，至少一个模块是基于至少一个模块的执行层级来顺序排列的；确定可用的处理器；以及使用可用的处理器来运行该运行队列内的模块的仿真函数，用于对集成电路装置进行仿真验证。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 装置 设计 仿真 方法 设备 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
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