[发明专利]芯片的验证方法与验证系统有效
| 申请号： | 202110723686.7 | 申请日： | 2021-06-29 |
| 公开（公告）号： | CN113486625B | 公开（公告）日： | 2022-05-06 |
| 发明（设计）人： | 李洋;张家金;尚铮 | 申请（专利权）人： | 海光信息技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/398 | 分类号： | G06F30/398 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 彭久云 |
| 地址： | 300392 天津市华苑产业区*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本公开提供一种芯片的验证方法与验证系统，芯片包括多个内核电路组，方法包括：从多个内核电路组中选择第一待测内核电路组；从多个内核电路组中选择至少一个进行模拟，获取内核电路组模型模块；向第一待测内核电路组提供第一激励信号及向内核电路组模型模块提供第二激励信号；基于第一激励信号，获得第一执行结果；基于第二激励信号，获得第二执行结果；根据第一激励信号模拟得到第一期望结果及根据第二激励信号模拟得到第二期望结果；对比第一执行结果与第一期望结果及对比第二执行结果与第二期望结果，用以确定用于第一待测内核电路组和内核电路组模型模块的验证结果。本公开可以加速验证过程，大大减少仿真时间，还可完成更多场景的验证。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 验证 方法 系统 | ||
【主权项】：
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