[发明专利]半导体封装方法及半导体封装结构在审

专利信息
申请号: 202110729591.6 申请日: 2021-06-29
公开(公告)号: CN113471086A 公开(公告)日: 2021-10-01
发明(设计)人: 涂旭峰;霍炎 申请(专利权)人: 矽磐微电子(重庆)有限公司
主分类号: H01L21/56 分类号: H01L21/56;H01L21/60;H01L25/16
代理公司: 北京博思佳知识产权代理有限公司 11415 代理人: 张相钦
地址: 401331 重*** 国省代码: 重庆;50
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 本申请提供一种半导体封装方法及半导体封装结构。其中,半导体封装方法包括:在无源器件的正面设置基板层,无源器件的正面具有电性连接键,基板层中设有贯穿基板层相对两表面的基板层开口,基板层开口与电性连接件相对应;在裸片正面形成保护层,并在保护层上形成保护层开口;裸片正面设有焊垫,保护层开口与裸片正面的焊垫相对应;将无源器件和裸片间隔贴装于载板上;裸片的正面朝向载板,无源器件的正面朝向载板;形成包封层,包封层至少包封裸片和无源器件的侧面。通过预先在无源器件表面设置基板层,解决了部分无源器件锡端子面无法直接封装的技术难题,并且有利于保证无源器件的稳定性及可靠性。裸片正面的保护层有利于保护裸片。
搜索关键词: 半导体 封装 方法 结构
【主权项】:
暂无信息
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