[发明专利]一种银线型触头烧蚀区域形貌三维粗糙度表征方法有效
| 申请号： | 202110730278.4 | 申请日： | 2021-06-29 |
| 公开（公告）号： | CN113344823B | 公开（公告）日： | 2022-05-10 |
| 发明（设计）人： | 李文华;赵培董;王景芹 | 申请（专利权）人： | 河北工业大学 |
| 主分类号： | G06T5/00 | 分类号： | G06T5/00;G06T5/40;G06T7/13 |
| 代理公司： | 天津市鼎拓知识产权代理有限公司 12233 | 代理人： | 刘雪娜 |
| 地址： | 300401 天津*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本申请提供一种银线型触头烧蚀区域形貌三维粗糙度表征方法，包括获取触头表面形貌图像以及表面形貌图像对应的原始点云数据集；提取触头表面形貌图像上的触头烧蚀区域轮廓；将触头烧蚀区域轮廓映射至原始点云数据集，得到与触头烧蚀区域对应的烧蚀区域点云数据集；拟合烧蚀区域点云数据集，得到触头表面形貌的基准面；计算烧蚀区域点云数据集与基准面上对应点处的高度偏差，得到校正后点云数据集；计算校正后点云数据集对应的触头烧蚀区域形貌三维粗糙度的表征参数。该方法可避免包含大量无关数据，结果准确，误差较小，得到的表征参数可精准表征银线型触头烧蚀区域形貌三维粗糙度，对于研究触头表面功能特性及继电器可靠性具有十分重要的意义。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 线型 触头烧蚀 区域 形貌 三维 粗糙 表征 方法 | ||
【主权项】：
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