[发明专利]自动遍历被测产品不同测试参数的测试方法在审
| 申请号： | 202110730573.X | 申请日： | 2021-06-30 |
| 公开（公告）号： | CN113505062A | 公开（公告）日： | 2021-10-15 |
| 发明（设计）人： | 董宇晖 | 申请（专利权）人： | 西南电子技术研究所(中国电子科技集团公司第十研究所) |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 成飞(集团)公司专利中心 51121 | 代理人： | 郭纯武 |
| 地址： | 610036 四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开的一种自动遍历被测产品不同测试参数的测试方法，能够降低测试成本，提高测试效率。本发明通过下述技术方案实现：以二维表的结构组织遍历参数表，对二维表单元格进行配置形成相应的遍历参数表；通过软件开发实现按照约定的遍历参数表数据组织方式及语法规则，对遍历参数表解析生成测试参数组合的参数表解析库；以面向对象的编程思想，通过将测试参数作为输入参数的方式，将测试参数的生成与获取工作从测试软件中抽离出来，形成具有通用性的测试方法；调用参数表解析库对配置好的遍历参数表进行解析，将生成的测试参数集合作为测试方法的输入参数，达到不同的遍历参数表+同一测试方法，形成被测产品的不同测试软件。 | ||
| 搜索关键词： | 自动 遍历 产品 不同 测试 参数 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西南电子技术研究所(中国电子科技集团公司第十研究所)，未经西南电子技术研究所(中国电子科技集团公司第十研究所)许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110730573.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：自动测试软件平台
- 下一篇：一种基于边缘计算的数据采集系统
