[发明专利]一种基于二硒化钯/薄锗肖特基结的颜色探测系统及其制备方法

摘要

本发明公开了一种基于二硒化钯/薄锗肖特基结的颜色探测系统及其制备方法，该颜色探测系统是由两个上下平行放置的相同的二硒化钯/薄锗肖特基结颜色探测单元构成，当光从上颜色探测单元的上方，向下逐层照射颜色探测系统时，上颜色探测单元与下颜色探测单元的电流比随被探测光波长的增大而减小，从而可根据电流比识别被探测光的波长。本发明的颜色探测系统可探测的波长范围包括530‑1650nm，跨越了整个可见光区域又涉及一部分近红外波段，且该系统具有准确性和重复性高的优点。