[发明专利]一种基于高速LED阵列的三维测量系统及其测量方法有效
| 申请号： | 202110737428.4 | 申请日： | 2021-06-30 |
| 公开（公告）号： | CN113465545B | 公开（公告）日： | 2022-09-20 |
| 发明（设计）人： | 孙鸣捷;张蕾;黄宏旭;陈文;李立京 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G01B11/25 | 分类号： | G01B11/25 |
| 代理公司： | 北京永创新实专利事务所 11121 | 代理人： | 周长琪 |
| 地址： | 100191*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于高速LED阵列的三维测量系统及其测量方法，该系统通过控制板卡的I/O输出控制信号使得LED阵列直接输出二值方波条纹，接着调整成像镜头使之稍微离焦，使投射的二值方波条纹生成正弦条纹，将该离焦调制后的光束投射到被测物体的表面，此时正弦条纹经物体深度调制后会产生一定的形变，再由相机镜头收集与物体作用后的光束并汇聚到CCD相机接收面，计算机采集CCD相机拍摄到的图案进行数据处理与三维解算，得到物体三维形貌信息。本发明采用高速LED阵列直接投射不同宽度的二值方波条纹可以实现对物体的高速三维测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 高速 led 阵列 三维 测量 系统 及其 测量方法 | ||
【主权项】：
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