[发明专利]一种普适性广的奥氏体混晶评价方法有效

专利信息
申请号: 202110738402.1 申请日: 2021-06-30
公开(公告)号: CN113552029B 公开(公告)日: 2022-09-30
发明(设计)人: 徐月;刘建生;焦永星;李景丹;陈飞;郑晓华;马璟 申请(专利权)人: 太原科技大学
主分类号: G01N15/02 分类号: G01N15/02
代理公司: 太原达引擎专利代理事务所(特殊普通合伙) 14120 代理人: 郭栋梁
地址: 030000 山*** 国省代码: 山西;14
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摘要: 一种普适性广的奥氏体混晶评价方法,属于混晶评价技术领域,解决现有混晶评价方法本身存在其局限性的技术问题,包括以下步骤:1)、随机选取视场,采用截弦法测量视场中的晶粒个数、每个晶粒的晶粒弦长及晶粒总弦长;2)、将每个晶粒的晶粒弦长从大到小依次排列,归纳整理每组组距宽度内晶粒出现的个数,计算每组晶粒总弦长;3)、确定每组晶粒总弦长占晶粒总弦长的百分比;4)、确定两端非优势样本晶粒的平均弦长记为平均晶粒弦长;5)、将平均晶粒弦长换算成晶粒度级别,混晶程度为两端非优势样本晶粒的晶粒度级别差。本发明制定的混晶评价方法,兼顾现有技术中各种混晶评价方法的局限性,具有更广泛的普适性,并且便于操作。
搜索关键词: 一种 普适性广 奥氏体 评价 方法
【主权项】:
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