[发明专利]用于探测大气温度和密度廓线的临边散射探测装置及方法在审

专利信息
申请号: 202110738741.X 申请日: 2021-06-30
公开(公告)号: CN113624640A 公开(公告)日: 2021-11-09
发明(设计)人: 王玉诏;罗萍萍;陶宇亮 申请(专利权)人: 北京空间机电研究所
主分类号: G01N9/24 分类号: G01N9/24;G01K11/00
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 范晓毅
地址: 100076 北京市丰*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种用于探测大气温度和密度廓线的临边散射探测装置及方法,通过接收模块、线阵探测器和处理模块组成的系统,由光学手段直接获得大气密度的垂直廓线,并由该廓线反演出温度廓线,该技术降低了系统复杂度和对其它高精度观测数据的依赖程度,该技术具有高频次观测和低成本优势,因而可以通过构建低成本的光学掩星观测星座实现中高层大气温度、密度廓线的高效观测。
搜索关键词: 用于 探测 大气 温度 密度 散射 装置 方法
【主权项】:
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