[发明专利]用于测量聚合物成型过程中分子取向的装置及测量方法

摘要

本发明属于聚合物分子取向测量相关技术领域，其公开了一种用于测量聚合物成型过程中分子取向的装置及测量方法，装置包括：同轴圆筒探针，包括屏蔽层、绝缘层以及2n个电极，n≥2，2n个电极间隔镶嵌于绝缘层的一圆周面上，圆周面上同一直径上的两电极为一组，所述2n个电极生成至少2组电极；复介电常数测量单元与所述2n个电极连接，用于通过每组电极检测对应方向上聚合物分子的介电常数；取向计算模块与所述复介电常数测量单元连接，用于根据每组电极的介电常数获得该组电极检测处对应的聚合物分子的取向值。本申请可以实现多个方向上取向张量的准确测量，抗干扰能力强，非常适用于工业化制备和应用。