[发明专利]基于MMD残差的隐写检测特征选取方法有效
| 申请号： | 202110740667.5 | 申请日： | 2021-06-30 |
| 公开（公告）号： | CN113542525B | 公开（公告）日： | 2023-02-10 |
| 发明（设计）人： | 刘粉林;金顺浩;杨春芳;马媛媛;刘媛 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军战略支援部队信息工程大学 |
| 主分类号： | H04N1/32 | 分类号： | H04N1/32 |
| 代理公司： | 郑州大通专利商标代理有限公司 41111 | 代理人： | 张立强 |
| 地址： | 450000 河*** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： |
本发明提供一种基于MMD残差的隐写检测特征选取方法。该方法包括：步骤1：将高维Rich Model隐写检测特征拆解为若干个Rich Model子模型特征向量；步骤2：针对每个Rich Model子模型特征向量，基于MMD残差的属性重要度的度量公式度量其各个特征分量的属性重要度值，并根据属性重要度值对各个特征分量进行降序排序；步骤3：针对每个Rich Model子模型特征向量，设置窗口大小S |
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| 搜索关键词： | 基于 mmd 检测 特征 选取 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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