[发明专利]一种三反射镜紧缩场天线测量系统及结构和参数确定方法有效
| 申请号： | 202110743674.0 | 申请日： | 2021-07-01 |
| 公开（公告）号： | CN113533864B | 公开（公告）日： | 2022-07-29 |
| 发明（设计）人： | 姚远;俞俊生;于海洋;李峙;陈天洋;陈雨晴;张亮;陈晓东 | 申请（专利权）人： | 北京邮电大学 |
| 主分类号： | G01R29/08 | 分类号： | G01R29/08;G01R29/10 |
| 代理公司： | 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 | 代理人： | 项京;赵元 |
| 地址： | 100876 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明实施例提供了一种三反射镜紧缩场天线测量系统及其结构和参数确定方法，该系统中，馈源被设置在方向移动装置上，主反射镜大小、曲率固定，两赋形副反射镜均是凹凸性可调的赋形反射镜，其参数以及各反射镜之间的几何关系，基于等效抛物面理论和波束模式展开理论确定，馈源发出的电磁波经第一赋形副反射镜、第二赋形副反射镜及主反射镜反射，形成出射场。本发明实施例提供的三反射镜紧缩场天线测量系统，通过调整方向移动装置使得馈源发出的电磁波辐射方向灵活可调，且两赋形副反射镜的参数以及各个反射镜之间的几何位置关系，可以基于等效抛物面理论和波束模式展开理论计算确定，使得三反射镜紧缩场天线测量系统具有较高的几何设计自由度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 反射 紧缩 天线 测量 系统 结构 参数 确定 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京邮电大学，未经北京邮电大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110743674.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
