[发明专利]一种IGBTKGD芯片的测试治具有效
| 申请号： | 202110748516.4 | 申请日： | 2021-07-02 |
| 公开（公告）号： | CN113203943B | 公开（公告）日： | 2021-09-14 |
| 发明（设计）人： | 殷岚勇;徐亮;李亚鹏 | 申请（专利权）人： | 苏州韬盛电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/02;G01R1/04 |
| 代理公司： | 北京华际知识产权代理有限公司 11676 | 代理人： | 范登峰 |
| 地址： | 215000 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种IGBTKGD芯片的测试治具。本发明具有IGBTKGD芯片测试的效果，旋紧盖板设置在测试箱上，测试箱内设置有加热棒与温度感应电偶，加热棒上套有绝缘保护套，绝缘保护套为氮化铝材料，绝缘保护套安装在测试箱底板上，测试箱体内设置有调整垫圈，调整垫圈设置在调整垫圈安装板内，调整垫圈安装板下方设置有塑料绝缘块，塑料绝缘块下方设置有测试箱底板，测试箱底板下表面设置有上铜块，上铜块内设置有上铜块探针，测试箱体两端设置有卡扣，卡扣与测试箱体之间设置卡扣弹簧，测试箱下端设置有测量机座，测量机座内设置有下铜块探针组，测量机座两侧设置有进气口与出气口，进出气体为氮气，测试箱底板下表面设置有分流探针组。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 igbtkgd 芯片 测试 | ||
【主权项】：
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