[发明专利]一种用于快速分析滤膜上颗粒物化学组分的质谱检测方法及装置在审
| 申请号： | 202110751608.8 | 申请日： | 2021-07-02 |
| 公开（公告）号： | CN113466316A | 公开（公告）日： | 2021-10-01 |
| 发明（设计）人： | 唐小锋;马子吉;温作赢;顾学军;张为俊 | 申请（专利权）人： | 中国科学院合肥物质科学研究院 |
| 主分类号： | G01N27/62 | 分类号： | G01N27/62;G01N27/64;G01N27/68 |
| 代理公司： | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人： | 李晓莉 |
| 地址： | 230031 *** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明公开了一种用于快速分析滤膜上颗粒物化学组分的质谱检测方法及装置。所述装置主要包括加热管、毛细管进样接口、电离源、离子导入器和质量分析器等部分。所述检测方法包括，将收集到颗粒物的滤膜直接放置于加热管内进行热解析，通过氮气将颗粒物热解析产生的气体分子带入至毛细管进样接口，气体分子进入电离源内进行离子化，产生的离子经离子导入器传输到质量分析器进行质量测量，得到滤膜上颗粒物的化学组分信息。本发明将采样后的滤膜直接放入加热管内进行热解析，不需要对滤膜进行萃取等预处理操作，减少人为误差。利用质谱仪对颗粒物热解析气体组分进行快速检测，可以在秒到分钟时间内获得颗粒物的化学组分信息。使用软电离源进行电离，能够获取颗粒物组分的分子质量信息。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 快速 分析 滤膜 颗粒 物化 组分 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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