[发明专利]一种DDR芯片测试方法、装置、终端设备及存储介质在审
| 申请号： | 202110753489.X | 申请日： | 2021-07-02 |
| 公开（公告）号： | CN113466664A | 公开（公告）日： | 2021-10-01 |
| 发明（设计）人： | 魏佳辉;刘敏;戴洋洋;陈宗廷;李斌 | 申请（专利权）人： | 深圳市宏旺微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/317 |
| 代理公司： | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 | 代理人： | 夏智海 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本申请提供了一种DDR芯片测试方法、装置、终端设备及存储介质，涉及芯片测试技术领域。DDR芯片测试装置与控制设备连接，DDR芯片测试装置包括测试平台和机械臂；测试平台上设置有至少一个用于测试待测芯片的测试位，控制设备用于控制机械臂将待测芯片放置在测试位，并用于控制测试平台对待测芯片进行测试，以及用于根据测试平台对待测芯片的测试结果控制机械臂将待测芯片移动到与测试类型对应的指定位置。基于本申请提供的DDR芯片测试方法、装置、终端设备及存储介质，可以提高DDR芯片的测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 ddr 芯片 测试 方法 装置 终端设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市宏旺微电子有限公司，未经深圳市宏旺微电子有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110753489.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种氦气检测泄漏设备
- 下一篇：单晶生长控制方法、装置、设备及计算机存储介质
