[发明专利]化学抛光装置及其方法有效

专利信息
申请号: 202110760223.8 申请日: 2021-07-06
公开(公告)号: CN113319734B 公开(公告)日: 2023-05-26
发明(设计)人: 潘峰;赵玉国;赵永进;王文丽;陈威;薛书亮;张博 申请(专利权)人: 北京半导体专用设备研究所(中国电子科技集团公司第四十五研究所)
主分类号: B24B37/10 分类号: B24B37/10;B24B37/005;B24B49/16;B24B55/02;B24B49/00;H01L21/67;H01L21/306
代理公司: 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 代理人: 王闯
地址: 100176 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种化学抛光装置及其方法,涉及半导体材料制造加工领域。该化学抛光装置包括抛光垫、抛光支撑件、抛光驱动器、抛光适应器和抛光压力器;抛光垫的第一面固定连接在抛光支撑件的一面,抛光垫的第二面与抛光适应器抵接或者间隔设置;抛光驱动器能够驱使抛光支撑件转动;抛光适应器内设置有一个或者多个用于固定基材的抛光压力器,抛光压力器被配置为令基材紧贴抛光垫的第二面;抛光适应器内设置有用于输送抛光液至抛光垫的抛光液通道结构。所述化学抛光方法适用于化学抛光装置。本发明的目的在于提供一种化学抛光装置及其方法,以在一定程度上解决现有技术中存在的半导体基材表面精加工时间长、速度慢的技术问题。
搜索关键词: 化学抛光 装置 及其 方法
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