[发明专利]一种基于FPGA的线束综合测试系统及方法在审
| 申请号： | 202110760414.4 | 申请日： | 2021-07-06 |
| 公开（公告）号： | CN113533838A | 公开（公告）日： | 2021-10-22 |
| 发明（设计）人： | 张金锁;黄科;倪友福 | 申请（专利权）人： | 迪力普电子（常州）有限公司 |
| 主分类号： | G01R19/25 | 分类号： | G01R19/25;G01R1/30 |
| 代理公司： | 南京苏博知识产权代理事务所(普通合伙) 32411 | 代理人： | 柳强 |
| 地址： | 213002 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及线束测试技术领域，具体涉及一种基于FPGA的线束综合测试系统及方法；将DDS产生的信号作为基准分别连接高压信号源模块和低压信号源模块，用于所有测试项目；将电压采样模块、电流采样模块与FPGA相连，由FPGA调节量程，用于所有测试项目；在交流项目测试的时候，4路锁相放大器和4路积分型模数转换器同步并行工作，直流项目测试的时候，2路积分型模数转换器同步并行工作；FPGA读取ADC的转换结果，由内部DSP软核进行运算，并最终得出测试结果，与传统方案相比，功能强大，电路集成度高，体积减小，重量减轻，4路并行检测，测试速度快。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 fpga 综合测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
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