[发明专利]基于扫描链结构的测试向量自动生成方法在审
| 申请号： | 202110761997.2 | 申请日： | 2021-07-06 |
| 公开（公告）号： | CN113435152A | 公开（公告）日： | 2021-09-24 |
| 发明（设计）人： | 钱静洁 | 申请（专利权）人： | 无锡玖熠半导体科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/333 | 分类号： | G06F30/333 |
| 代理公司： | 上海海颂知识产权代理事务所(普通合伙) 31258 | 代理人： | 任益 |
| 地址： | 214101 江苏省无锡市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明公开了基于扫描链结构的测试向量自动生成方法，在读入数字芯片的网表并将其转换成包括gate table和net table的数据库，然后加入相应的配置使数字芯片处于测试模式。分析该数据库格式的网表，得到完整的故障表，选取故障表中的一个故障,并推算其测试向量，对该测试向量进行压缩处理，以判断是否所有的gate电路都已经处理完毕。本发明通过预先在设计中插入的扫描链Scan Chain实现了可以为每一款芯片量身定制特定的测试向量的目的，而且可以快速且全自动地产生测试向量，从而有效提升了芯片可测试性设计过程中数字逻辑的覆盖率。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 扫描 链结 测试 向量 自动 生成 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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