[发明专利]一种凸阵探头的性能测试方法及装置在审
| 申请号： | 202110764675.3 | 申请日： | 2021-07-06 |
| 公开（公告）号： | CN113576518A | 公开（公告）日： | 2021-11-02 |
| 发明（设计）人： | 安普岩;吴楠 | 申请（专利权）人： | 逸超科技（北京）有限公司 |
| 主分类号： | A61B8/00 | 分类号： | A61B8/00 |
| 代理公司： | 北京博雅睿泉专利代理事务所(特殊普通合伙) 11442 | 代理人： | 吴秀娥 |
| 地址： | 100176 北京市大兴区经济技*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开提供了一种凸阵探头的性能测试方法及装置，该方法包括：控制凸阵探头进行第一运动，根据凸阵探头在第一运动过程中第一目标阵元所接收的超声信号的目标参数的参数值，确定凸阵探头的初始姿态；其中，初始姿态为使得第一目标阵元与反射靶之间的距离最近，凸阵探头的阵元排布方向平行于第一平面的姿态；控制凸阵探头以初始姿态进行第二运动，根据凸阵探头在第二运动过程中第二目标阵元所接收的超声信号的目标参数的参数值，确定凸阵探头的测试位姿；其中，测试位姿为使得第二目标阵元距反射靶的距离一致、且第二目标阵元所发射的超声信号垂直于其在反射靶中入射位置的切面的位姿；按照测试位姿，对凸阵探头进行性能测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 探头 性能 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
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