[发明专利]一种光路耦合测试设备在审
| 申请号： | 202110768681.6 | 申请日： | 2021-07-07 |
| 公开（公告）号： | CN113473087A | 公开（公告）日： | 2021-10-01 |
| 发明（设计）人： | 彭寒勤;黄君彬;杨勇;付全飞;陈纪辉 | 申请（专利权）人： | 深圳市埃尔法光电科技有限公司 |
| 主分类号： | H04N7/18 | 分类号： | H04N7/18;H04N5/232;H04B10/073 |
| 代理公司： | 深圳市恒申知识产权事务所(普通合伙) 44312 | 代理人： | 赵胜宝 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙华区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种光路耦合测试设备，用于对待测光模块的光路耦合进行测试，其包括底座、影像捕捉器件以及位置调节机构，其中，底座用于放置待测光模块，位置调节机构设置在底座上且与底座滑动配合，位置调节机构连接于影像捕捉器件，位置调节机构用于带动影像捕捉器件在三维空间中移动，影像捕捉器件用于捕捉待测光模块的光纤接口的图像。本发明能够自动完成对待测光模块的光纤接口的对焦定位和影像捕捉，从而能够有效地提升光路耦合测试设备的测试效率，并缩短光路耦合测试设备的测试时间。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 耦合 测试 设备 | ||
【主权项】：
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